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Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀

簡(jiǎn)要描述:

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測(cè)量平面類零件,如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu),平面光源位于頂部機(jī)蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面,可同時(shí)測(cè)量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。

產(chǎn)品時(shí)間:2024-11-09

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀適于工廠高速柵格二維掃描測(cè)量平面類零件,如線路板、手機(jī)外殼、模板等。封閉式結(jié)構(gòu),平面光源位于頂部機(jī)蓋,CCD變焦系統(tǒng)位于機(jī)器底部,快速聚焦于大玻璃工作臺(tái)表面,可同時(shí)測(cè)量位于工作臺(tái)表面各種不同類型零件。

Werth FlatScope平面零件光學(xué)掃描儀,在鋁型材行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用,世界鋁型材企業(yè)都在使用。

作為測(cè)量?jī)x器,是當(dāng)今世界上測(cè)量二維工件zui精確的二維掃描儀(申請(qǐng)中).


主要特點(diǎn):
高速的矩陣式掃描系統(tǒng),適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的二維測(cè)量
工業(yè)圖像處理系統(tǒng),掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓
被測(cè)工件可任意位置放置
模塊化的測(cè)量軟件
利用投射光和透射光進(jìn)行工件掃描
快捷方便的WinWerth評(píng)估軟件
WinWerth軟件CAD在線和*公差擬合測(cè)量
平面光源
精度采用高標(biāo)準(zhǔn)雙邊標(biāo)定

 

技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍(玻璃工作臺(tái) 尺寸):
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度:Z = 100mm
光柵尺分辨率:0.1µm

測(cè)量機(jī)zui大允許誤差:

變焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
 E2: (2.9+L/100) µm

固定鏡頭 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
 E2: (4.9+L/75) µm

固定鏡頭 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
 E2: (9+L/75) µm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X鏡頭  2)20℃±2度 Δ=1度/h
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn) ISO 10360 和 VDI/VDE 2617

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